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日本日立通用多功能原子力顯微鏡5100N概述
AFM5000Ⅱ工作站采用全新的圖標用戶界面，標準配備參數自動設置功能(RealTune® II)，即使是剛剛接觸SPM的初學者或者遇到全新的樣品時，也能快速獲得準確的測量數據。
日本日立通用多功能原子力顯微鏡5100N特點 1. 簡便的懸臂安裝
通常的懸臂是非常渺小而且很難操作，內部裝有傳感器的「自檢測懸臂」比普通的AFM探針要大得多，容易拿取，安裝非常簡單方便。
2. 不用調整激光光斑的自檢測方式
激光檢測方式的探針需要調節激光光斑的位置，操作復雜，而采用自檢測方式的「自檢測懸臂」無需調節激光光斑。
3. 精卻的懸臂定位
懸臂的機械結構，能夠以俯視方式直接觀察懸臂的位置，從而輕松調整樣品的測量的位置。除此之外，更加尖銳的探針提高了分辨率。
4. 方便的操作導航系統
通過流程圖形式的導航系統，任何人都可以輕松地進行高分辨表面測量。另外，通過設定樣品的軟硬度和凹凸系數等參數，能夠簡單確定測量條件。
5. 緊湊的主機
主機上包含減震臺、隔音罩、光學顯微鏡等附件，安裝緊湊，體積小巧。
6. 優越的擴展功能
通過激光檢測方式，能夠擴展各種各樣的選配功能。另外，只要插拔一根電纜就能夠切換成激光檢測方式。
蘇公網安備 32050502000404號
