日本日置磁場測試儀 FT3470-51概述

磁場測試儀的校正可在日本國內(nèi)進(jìn)行

JIS C 1910推薦使用進(jìn)行過校正，可溯源的測試儀來進(jìn)行測量。

HIOKI擁有NIST（美國國家標(biāo)準(zhǔn)與技術(shù)研究院）的可溯源的校正設(shè)備，可在國內(nèi)進(jìn)行校正。根據(jù)客戶的要求，可再磁場測試儀購買時或購買后進(jìn)行校正時，有償提供檢查成績表、校正證明書、可溯源體系圖。關(guān)于校正詳情請向樶近的HIOKI營業(yè)所垂詢。

可分別顯示3軸（X，Y，Z）磁場各自的值

電流流過的物體周圍產(chǎn)生的空間稱為“磁場”。磁場存在方向，根據(jù)方向，測量值不同。需要測量3軸全部。FT3470-50系列能夠同時測量3軸并求出合成值（R），從而做到準(zhǔn)確的測量。

可選的磁通密度單位

根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)定的不同，支持顯示T（特斯拉）、A/m （安培/米）、G （高斯）之類不同的磁通密度的單位。

磁通密度的合成有效值電平、暴露電平的模擬輸出功能（JIN限FT3470-51，F(xiàn)T3470-52）

與存儲記錄儀或數(shù)據(jù)采集儀連接，可記錄磁通密度的有效值。便于長期的觀測。輸出率為0.1 mV/顯示值（以磁通密度單位T為基準(zhǔn)）

磁通密度（T）的X，Y，Z各軸的波形輸出功能（JIN限FT3470-51，F(xiàn)T3470-52）

連接示波器或存儲記錄儀，可觀測磁場的波形。輸出率為0.1 mV/顯示值（以磁通密度單位T為基準(zhǔn)）

日本日置磁場測試儀 FT3470-51特點(diǎn)

★ 適用于以ICNIRP2010準(zhǔn)則為基礎(chǔ)的評估試驗(yàn)

★ 符合IEC62110/IEEE 644以及EN62233標(biāo)準(zhǔn)

★ 標(biāo)配符合IEC/EN62233的100cm2的磁場傳感器

★ 顯示單位可選(T，A/m，G)

★ 操作簡單，輕松測量

★ 標(biāo)配PC應(yīng)用軟件

★ 可以用于無線充電評價系統(tǒng)TS2400