羅德與施瓦茨網(wǎng)絡(luò)分析儀ZVA40；矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀ZVA40；羅德與施瓦茨ZVA40；德國R&S ZVA40
羅德與施瓦茨上等代 理；德國羅德與施瓦茨上等銷售平臺-蘇州展文電子科技有限公司
主要特點
? **臺具有以下特點的矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀
° 帶 4 個內(nèi)部信號源，頻率高達 67 GHz，可以快速地對放大器和混頻器進行測量
° 具有 4 個相位相干信號發(fā)生器功能（頻率可高達 67 GHz）
° 中頻帶寬可高達 30 MHz，可以實現(xiàn)放大器和混頻器的脈沖測量功能
? 可以對帶或不帶本振接入的混頻器的變頻損耗進行相位和群延時測量
? 可以對放大器和混頻器進行諧波、壓縮、互調(diào)和 Hot S22測量
? 實現(xiàn)了無噪聲源噪聲系數(shù)定義的新方法
? 實現(xiàn)了脈內(nèi)掃頻測量、脈沖平均掃頻測量和脈沖包絡(luò)測量
? 2 個內(nèi)部脈沖發(fā)生器
? 通過 R&S®ZVAX24，實現(xiàn)了內(nèi)部脈沖調(diào)制器和組合器
? 嵌入/去嵌入功能通過虛擬網(wǎng)絡(luò)實現(xiàn)阻抗匹配
? 支持真差分測量，可以表現(xiàn)出平衡設(shè)備的非線性效應(yīng)
? 多功能校準(zhǔn)技術(shù)：TOSM、TRL/LRL、TOM、TRM、TNA、UOSM 和 AutoCal
ZVA 系列產(chǎn)品屬于優(yōu)異矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀，*多可支持 4 個信號源，可以精準(zhǔn)地測量高達 110 GHz 的信號。 需要對高性能、多功能型有源或無源組件和模塊進行要求極高的測量時，該系列產(chǎn)品是理想的選擇。 其高頻型產(chǎn)品的頻率范圍*大可擴展至 500 GHz。
R&S®ZVA 已經(jīng)成為解決絕大多數(shù)**挑戰(zhàn)性應(yīng)用的里程碑式產(chǎn)品：
**臺頻率可高達 67 GHz，并且含兩路內(nèi)部源的矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀，可以快速地對放大器和混頻器進行測量
? 線性和非線性放大器和混頻器測量：
° 對混頻器變頻損耗的矢量誤差校正幅度和相位進行測量
° 對帶內(nèi)置本振的群延時和相對相位進行測量
° 對混頻器的變頻損耗和互調(diào)進行測量
° 對放大器進行互調(diào)和 Hot S 參數(shù)進行測量
? 脈沖測量：
° **臺中頻帶寬高達 30 MHz 的矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀，用于對工作頻率高達 67 GHz的放大器和混頻器進行脈沖測量（詳細內(nèi)容請參見“應(yīng)用”和“選件”）
° 對脈寬小于 50 ns 的脈沖信號進行分辨率高達 12.5 ns 的脈沖包絡(luò)測量
° 頻率和功率掃描式的脈內(nèi)測量
? **臺工作頻率高達 50 GHz 、可以產(chǎn)生相位相干信號的矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀
° 采用真差分模擬，可以快速、簡便地測試平衡待測設(shè)備
° 輸入到DUT 參考面上的信號的幅值和相位關(guān)系支持用戶自定義
? 校準(zhǔn)
° 多功能校準(zhǔn)技術(shù)：TOSM、TRL/LRL、TOM、TRM、TNA 和 UOSM
° 方便、快捷的矢量混頻器校準(zhǔn)功能和帶有“未知通路”校準(zhǔn) UOSM的“適配器去除功能”
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寬動態(tài)范圍
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典型值 >150 dB
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高輸出功率
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典型值 >18 dBm
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高測量速度
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每個點 <2 μs
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采樣時間非常短
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每個點 430 ns
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測量點數(shù)多
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每條跡線多達 60001 個點
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中頻帶寬大
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15 MHz（脈沖包絡(luò)測量時為 30 MHz）
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內(nèi)部信號源
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2（4 端口型號）
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(*)需使用*佳數(shù)據(jù)、特殊選件或 1 Hz IF 帶寬， 詳見“規(guī)格簡介”或 R&S®ZVA 參數(shù)表。
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型號
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圖片
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名稱
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訂貨號
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R&S®ZVA8 矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀
2 端口, 8 GHz
頻率范圍: 300 kHz - 8 GHz
測試端口: N (f)
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1145.1110.08
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R&S®ZVA8 矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀
4 端口, 8 GHz
頻率范圍: 300 kHz - 8 GHz
測試端口: N (f)
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1145.1110.10
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R&S®ZVA24 矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀
2 端口, 24 GHz
頻率范圍: 10 MHz - 24 GHz
測試端口: 3.5 mm (m)
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1145.1110.24
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R&S®ZVA24 矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀
4 端口, 24 GHz
頻率范圍: 10 MHz - 24 GHz
測試端口: 3.5 mm (m)
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1145.1110.26
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R&S®ZVA40 矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀
2 端口, 40 GHz
頻率范圍: 10 MHz - 40 GHz
測試端口: 2.92 mm (m)
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1145.1110.40
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R&S®ZVA40 矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀
2 端口, 40 GHz
頻率范圍: 10 MHz - 40 GHz
測試端口: 2.4 mm (m)
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1145.1110.43
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R&S®ZVA40 矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀
4 端口, 40 GHz
頻率范圍: 10 MHz - 40 GHz
測試端口: 2.92 mm (m)
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1145.1110.42
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R&S®ZVA40 矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀
4 端口, 40 GHz
頻率范圍: 10 MHz - 40 GHz
測試端口: 2.4 mm (m)
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1145.1110.45
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R&S®ZVA50 矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀
2 端口, 50 GHz
頻率范圍: 10 MHz - 50 GHz
測試端口: 2.4 mm (m)
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1145.1110.50
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R&S®ZVA50 矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀
4 端口, 50 GHz
頻率范圍: 10 MHz - 50 GHz
測試端口: 2.4 mm (m)
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1145.1110.52
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R&S®ZVA67 矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀
2 端口, 67 GHz
頻率范圍: 10 MHz - 67 GHz
測試端口: 1.85 mm (m)
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1305.7002.02
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R&S®ZVA67 矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀
4 端口, 67 GHz
頻率范圍: 10 MHz - 67 GHz
測試端口: 1.85 mm (m)
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1305.7002.04
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R&S®ZVA80 矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀
2 端口, 80 GHz
頻率范圍: 10 MHz - 80 GHz
測試端口: 1mm (m)
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1312.6750.02 /
1312.6750.03
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R&S®ZVA110 矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀
2 端口, 110 GHz
頻率范圍: 10 MHz - 110 GHz
測試端口: 1mm (m)
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1312.7004.03
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*優(yōu)化的測試和配置時間，提高了測試速度
大中頻帶寬和寬動態(tài)范圍，使測量更快、更加**
R&S
®ZVA 創(chuàng)立了測量速度的新標(biāo)桿：它將高達 1 MHz的中頻帶寬（可選 5/10 MHz）和高速合成器結(jié)合在一起，縮短了測量時間，從而提高了手動調(diào)整和自動化生產(chǎn)過程的效率。 在CW 模式下，每個測試點的測量時間不到 3.5μs；頻率掃描模式下200 多個測試點不到 5ms 即可完成。
由于該分析儀的動態(tài)范圍寬、相位噪聲低，因而這種速度優(yōu)勢絲毫不會對測量準(zhǔn)確性產(chǎn)生影響。 借助 R&S
®ZVA 上 100 多個獨立信道和配置的跡線，可以在*短時間內(nèi)完成復(fù)雜組件**的功能測試。 不再需要耗時地加載新的儀表設(shè)置。
寬動態(tài)范圍
*小化的校準(zhǔn)工作量和校準(zhǔn)時間
R&S
®ZV-Z5x 自動校準(zhǔn)單元
采用自動校準(zhǔn)單元，將校準(zhǔn)時間降低至*小：
? 自動檢測已經(jīng)連接的設(shè)備和端口：無需配置。
? 工作溫度范圍極寬，預(yù)熱時間幾乎為零。
手動校準(zhǔn)
? 羅德與施瓦茨網(wǎng)絡(luò)分析儀支持?jǐn)?shù)量*多的校準(zhǔn)技術(shù)。 測試裝置的夾具、晶片、PCB、波導(dǎo)或者導(dǎo)線端頭可能需要校準(zhǔn)。 選擇可以支持適用校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)的校準(zhǔn)技術(shù)。
? 系統(tǒng)設(shè)計有結(jié)構(gòu)清晰的對話框，顯示所有的校準(zhǔn)步驟，確保校準(zhǔn)工作正確無誤。
? 校準(zhǔn)期間，錯誤的連接僅需重做相應(yīng)的校準(zhǔn)步驟，即，無需從頭開始徹底的重新校準(zhǔn)。
? 對于多端口重新校準(zhǔn)，更加省心省力：更換測試儀組件（例如，某個故障電纜）之后，僅需重新校準(zhǔn)相應(yīng)的通路。
? 避免重新校準(zhǔn)：對于后續(xù)測量信道和設(shè)置，可以使用已有的校準(zhǔn)結(jié)果。
并行測量 — 測量速度比原來快四倍
R&S
®ZVA 的發(fā)生器設(shè)計，使得每個測試端口都可以同時作為信號源和接收機使用。 因此，可以對測試端口進行分組。 在各個測試端口組上進行的測量任務(wù)可以彼此實現(xiàn)同步。 因而，可以并行地測量多個 DUT 或者一個 DUT 的多個通路； 測量時間僅相當(dāng)于測量一個設(shè)備所需要的時間。 因此，同時測量兩個兩端口DUT時，速度將提高一倍；同時測量四個單端口DUT時，速度將是原先的四倍。
